|
|
|
|
Интерференционный объектив
Линзы с разным увеличением подходят для образцов с различным типом поверхности: от ультрагладкой до шероховатой.
|
Стенд для вакуумной адсорбции
Стенд для вакуумной адсорбции, предназначенный для полупроводниковых пластин, гарантирует, что на образцы не влияют слабые возмущения воздушного потока в воздухе во время процесса измерения
|
Двуканальная система виброизоляции и воздушной флотации
Двухканальная система виброизоляции и воздушной флотации, которая напрямую наполняет воздухом внешний источник газа и устройство для повышения давления, может эффективно изолировать вибрационный шум, исходящий от земли
|

|

|

|
|
Изоляция звуковой вибрации
Корпус измерительного прибора и механизм внутреннего движения имеют раздельные конструкции, что способствует эффективной изоляции передачи звуковой вибрации
|
Устройство настройки уровня
Наклоните ручку регулировки, чтобы отрегулировать ширину полосы и повысить точность реконструкции 3D-изображений
|
Удобный рычаг управления
Имеет эргономичный дизайн, включает автоматическое управление трехосным XYZ перемещением и скоростью вала, а также яркостью источника света. Оснащен клавишей аварийной остановки
|
Область применения
Прибор имеет широкое применение в таких промышленных отраслях, как полупроводники, 3С электроника, особовысокоточная обработка, оптическая обработка, микро-наноматериалы,микроэлектромеханика и т.д., а также используется для измерения и анализа шероховатости поверхности, геометрического контура и других параметров прецизионных деталей.

Пример применения
Измерение и анализ характеристик формы поверхности различных изделий: равномерность деталей и поверхности материалов, шероховатость, волнистость, контур формы поверхности, дефект поверхности, износ, коррозия, интервал зазора, высота уступа, деформация изгиба, обработка и т.д.

ПО для измерения и анализа Vision 3D
Интегрированное системное ПО; измерение и анализ выполняются через один и тот же интерфейс, параметры анализа предварительно установлены, ПО автоматически подсчитывает данные измерений и реализует функцию быстрого измерения партии.

Кликните для увеличения
Таблица оптических спецификаций
|
Увеличение объектива
|
2.5x
|
5x
|
10x
|
20x
|
50x
|
100x
|
|
Числовая апертура
|
0.075
|
0.13
|
0.3
|
0.4
|
0.55
|
0.7
|
|
Оптическое разрешение при 550 нм (мкм)
|
3.7
|
2.1
|
0.92
|
0.69
|
0.5
|
0.4
|
|
Глубина резкости (мкм)
|
48.6
|
16.2
|
3.04
|
1.71
|
0.9
|
0.56
|
|
Рабочее расстояние (мм)
|
10.3
|
9.3
|
7.04
|
4.7
|
3.7
|
2.0
|
|
Поле обзора
H x V (мм)
|
Система изобра- жения 1024×1024
|
0.5x
|
3.84×3.84
|
1.92×1.92
|
0.96×0.96
|
0.48×0.48
|
0.192×0.192
|
0.096×0.096
|
|
0.75x
|
2.56×2.56
|
1.28×1.28
|
0.64×0.64
|
0.32×0.32
|
0.128×0.128
|
0.064×0.064
|
|
1x
|
1.92×1.92
|
0.96×0.96
|
0.48×0.48
|
0.24×0.24
|
0.096×0.096
|
0.048×0.048
|